Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款集成了共聚焦、白光干涉和多焦面疊加技術(shù)的高精度光學(xué)輪廓測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用非接觸式測(cè)量方式，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)表面形貌的高精度測(cè)量。

在性能方面，Sensofar設(shè)備具備高分辨率和高穩(wěn)定性，支持多種測(cè)量模式，如共聚焦、白光干涉和多焦面疊加，適用于不同表面特性樣品的測(cè)量。設(shè)備支持多種樣品臺(tái)和自動(dòng)聚焦功能，便于靈活調(diào)整測(cè)量參數(shù)。

Sensofar設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)采用高線性電容傳感器和閉環(huán)反饋壓電陶瓷，確保測(cè)量的穩(wěn)定性和重復(fù)性。設(shè)備支持多種物鏡選擇，適用于不同放大倍率和工作距離的需求。

Sensofar設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密光學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和工業(yè)制造等領(lǐng)域，適用于表面粗糙度、臨界尺寸和三維形貌的測(cè)量。設(shè)備操作簡(jiǎn)便，支持多種軟件分析工具，便于用戶快速完成測(cè)量和分析。

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款高性能、高精度的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，適用于多種復(fù)雜表面的高精度測(cè)量需求。Sensofar三維共聚焦白光干涉儀