澤攸科研的電鏡解決方案

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

澤攸科研的電鏡解決方案
澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）通過(guò)更換樣品臺(tái)與探測(cè)器即可實(shí)現(xiàn)不同模式的切換。

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更新時(shí)間：2026-01-05

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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）與透射電鏡（TEM）的部分功能，通過(guò)更換樣品臺(tái)與探測(cè)器即可實(shí)現(xiàn)不同模式的切換。

作為 SEM 使用時(shí)，加速電壓 5 - 50kV，二次電子分辨率 2.0nm；切換至 TEM 模式后，可對(duì)薄樣品進(jìn)行觀察，點(diǎn)分辨率達(dá) 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。設(shè)備配備高角度環(huán)形暗場(chǎng)探測(cè)器（HAADF），能通過(guò)原子序數(shù)襯度成像，清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸科研的電鏡解決方案

機(jī)械結(jié)構(gòu)采用大理石底座，有效吸收外界振動(dòng)，保證高倍成像時(shí)的穩(wěn)定性。電子光學(xué)系統(tǒng)的透鏡采用無(wú)磁材料制造，減少磁場(chǎng)對(duì)電子束的干擾。參數(shù)表中顯示，其最大樣品傾斜角為 60°，適合進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位觀察，如材料在拉伸過(guò)程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。

面向科研需求，澤攸電鏡在性能與擴(kuò)展性上表現(xiàn)突出。其采用冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)娮邮芰糠€(wěn)定性優(yōu)于 0.1eV/h，為高分辨率成像與精細(xì)成分分析奠定基礎(chǔ)。

加速電壓 10 - 100kV，可調(diào)節(jié)步長(zhǎng) 0.1kV，滿足不同厚度與成分樣品的觀察需求。配備球差校正器，能將電子束的球差降至最小，使 STEM 模式下的點(diǎn)分辨率達(dá)到 0.08nm，可直接觀察原子排列結(jié)構(gòu)。

設(shè)備支持多種原位實(shí)驗(yàn)附件，如加熱臺(tái)（室溫 - 1000℃）、拉伸臺(tái)（最大拉力 50N），可在電鏡內(nèi)模擬樣品的服役環(huán)境，記錄動(dòng)態(tài)變化過(guò)程。真空系統(tǒng)采用全無(wú)油設(shè)計(jì)，避免油蒸氣對(duì)樣品的污染，極限真空達(dá) 5×10??Pa。

使用時(shí)，需通過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)掌握高級(jí)功能，軟件支持自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集與分析，可批量處理多個(gè)觀察點(diǎn)的圖像與光譜數(shù)據(jù)。適用于國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、頂尖高校的前沿研究，如二維材料的原子層表征、催化劑的動(dòng)態(tài)反應(yīng)機(jī)理研究等，助力突破科學(xué)難題。澤攸科研的電鏡解決方案

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