光學元件檢測好助手Zygo光學輪廓儀

產(chǎn)品簡介

光學元件檢測好助手Zygo光學輪廓儀
光學元件如鏡頭、鏡片的表面精度直接影響光學設(shè)備的成像質(zhì)量，Zygo 3D 光學輪廓儀 NewView™ 9000 能精準檢測光學元件表面形貌，為光學元件生產(chǎn)與質(zhì)檢提供有力支持。

產(chǎn)品型號：Zygo NewView 9000

更新時間：2026-01-13

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：343

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

BRUKER白光干涉光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀

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光學元件檢測好助手Zygo光學輪廓儀

光學元件如鏡頭、鏡片的表面精度直接影響光學設(shè)備的成像質(zhì)量，Zygo 3D 光學輪廓儀 NewView™ 9000 能精準檢測光學元件表面形貌，為光學元件生產(chǎn)與質(zhì)檢提供有力支持。

產(chǎn)品細節(jié)上，NewView™ 9000 配備光學元件專用固定裝置，可根據(jù)鏡片曲率、鏡頭尺寸調(diào)整固定位置，避免檢測時元件受力變形。設(shè)備的光學系統(tǒng)能模擬光學元件的實際工作光線角度，檢測結(jié)果更貼合實際使用場景。操作界面設(shè)有 “光學元件檢測" 專屬模塊，包含曲率半徑測量、表面面型誤差分析等功能，工作人員可直接調(diào)用，簡化操作流程。

性能方面，該設(shè)備的垂直分辨率能滿足光學元件納米級的面型誤差檢測需求，清晰捕捉鏡片表面的微小凸起或凹陷。采用相移干涉技術(shù)時，可對透明光學元件的雙面形貌進行檢測，無需拆分元件，減少檢測流程。檢測數(shù)據(jù)的重復性較好，多次檢測同一光學元件，結(jié)果偏差較小，保障質(zhì)檢的可靠性。

用材上，NewView™ 9000 與光學元件接觸的夾具部分采用軟質(zhì)耐磨材料，避免劃傷元件表面。設(shè)備外殼采用防靜電材料，減少靜電對光學元件的影響，尤其適合高精度光學鏡片的檢測。

以下是 Zygo 3D 光學輪廓儀 NewView™ 9000 的部分參數(shù)表：

參數(shù)類別	參數(shù)詳情
檢測技術(shù)	光學干涉技術(shù)（相移干涉、白光干涉可選）
曲率半徑測量	支持 0.1mm 至數(shù)米曲率半徑范圍測量（需適配物鏡）
面型誤差檢測	可檢測納米級面型誤差（取決于元件尺寸與檢測模式）
透明元件檢測	支持雙面同時檢測（需開啟專用檢測模式）
數(shù)據(jù)導出	支持與光學設(shè)計軟件兼容的數(shù)據(jù)格式

用途上，它可用于相機鏡頭表面面型檢測、望遠鏡鏡片曲率半徑測量、光學棱鏡表面缺陷排查等。在光學元件生產(chǎn)車間，可作為出廠質(zhì)檢設(shè)備，篩選不合格產(chǎn)品；在光學設(shè)備維修中，能幫助判斷光學元件的損傷程度，輔助維修方案制定。

使用時，先清潔光學元件表面，避免污漬影響檢測結(jié)果。將元件固定在專用夾具上，調(diào)整樣本臺使元件中心對準光學鏡頭。在軟件中選擇 “光學元件檢測" 模塊，設(shè)置檢測類型（如面型檢測、曲率測量）與參數(shù)，啟動檢測。設(shè)備完成檢測后，會生成面型誤差圖與曲率數(shù)據(jù)，工作人員可對比標準值判斷元件是否合格。檢測結(jié)束后，取下元件并妥善存放，清潔夾具與樣本臺，關(guān)閉設(shè)備電源。

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